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363 제2절 검사시스템의 교정 다. STB A1형 표준시험편(STB-A1) 이 시험편은 IIW(국제용접협회)에서 IIW-1형으로 제안되어 ISO(국제표준기구)에서 공 인된 시험편으로서 외국 규격에서는 IIW시험편 또는 V1시험편으로도 불리는 시험편이다. JIS(일본공업규격)와 KS(한국산업규격)에서 STB-A1시험편으로 불리며, 형상과 치수는 [그림 2-27]와 같고 탐상장치의 교정에 주로 활용된다. 그림 2-27 시험편의 형상과 주요치수(STB-A1)                     그림 2-28 IIW-1형 시험편 라. STB A2형계 표준시험편(STB-A2, A21, A22) 탐상기의 감도교정과 분해능의 측정에 사용되는 시험편으로서 [그림 2-29]에 형상과 치 수를 나타내고 있다. f1×1, f2×2, f4×4, f8×8 구멍은 감도 교정용으로 사용되며 주 로 f2×2, f4×4가 흔히 사용된다. f1.5×4의 두 개의 구멍을 이용하여 탐상장치의 분해 능을 측정하며 탐상장치의 감도여유값도 측정한다. 비파괴1권-인쇄용.indb 363 2014-12-23 오후 4:42:55